Новый функционал испытательного стенда «СИТ-30» производства АО «НИИЭТ»

В 2021 году АО «НИИЭТ» разработал и внедрил в собственной лаборатории первый образец стенда для термоэлектротренировки и испытаний транзисторов.
С помощью данных стендов была успешно реализована задача по организации отбраковки силовых транзисторов космического назначения. Это, в частности, позволило заказчику заместить в своей продукции ранее применявшиеся зарубежные транзисторы на отечественные аналоги – производства НИИЭТ.
Главные преимущества разработанных стендов - применение контактного метода термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом, что обеспечило высокую точность поддержания температуры корпусов компонентов с большим тепловыделением, а также индивидуальный контроль температуры каждого испытываемого компонента.
В настоящее время АО «НИИЭТ», исходя из опыта создания двух стендов для собственных нужд предприятия, предлагает потребителям оформить заказ на изготовление стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ «СИТ».
По сравнению с прошлыми стендами сейчас АО «НИИЭТ» улучшил функциональные характеристики оборудования.
Доработался блок управления режимами, теперь все настройки находятся на сенсорной панели, возможно записать настройки для определенного типа исследуемого прибора, после чего просто выбрать и все источники переведутся на заданный ранее режим. По-прежнему возможна установка разных приборов на один и тот же стенд используя одну из зон. Смещение исследуемого прибора находится автоматически.
Также модернизирована сама конструкция стенда: представлена возможность закрывать оборудование с обеих сторон его дверьми, нет никаких выступающих деталей.
Стенд «СИТ-30» производства АО «НИИЭТ» рассчитан на одновременное испытание 30 изделий в режимах статической и динамической электрической нагрузки.
Помимо отбраковочных испытаний при изготовлении изделий, к которым предъявляются особые требования к качеству и надежности, характерные, например, для космической отрасли, благодаря высокой точности и широкому диапазону задания параметров тепловой и электрической нагрузки и возможности контроля температурного режима каждого компонента в отдельности стенды «СИТ» могут применяться для испытаний опытных образцов вновь разрабатываемых электронных компонентов, определения предельных режимов работы, а также для испытаний компонентной базы для таких областей применения, как автомобильная электроника, медицинская техника, промышленная автоматика и т. п. Стенды могут использоваться для испытаний под нагрузкой не только дискретных компонентов, но и приборов с повышенным тепловыделением, например усилителей или ИС источников питания.
В настоящее время АО «НИИЭТ» принимает заявки на изготовление стендов испытаний транзисторов и автоматических камер теплового удара. Сделать заявку на поставку и узнать более подробную информацию об оборудовании можно на сайте производителя АО «НИИЭТ».