СТЭК-В, выпуск 2

Учредителем издания является Акционерное общество «Научно-исследовательский институт электронной техники».

Журнал освещает основные проблемы технических и физико-математических наук, связанные с разработкой новых систем, технологий в микроэлектроники и повышение эффективности их управления и функционирования с использованием современных методов, систем автоматизированного проектирования, обработки информации, цифровых технологий и искусственного интеллекта.

Разделы:

• Электронная компонентная база.
• Системный анализ, управление, обработка информации, статистика.
• Управление в организационных системах.
• Компьютерное моделирование и автоматизация проектирования.
• Информатика и информационные процессы.

Издание выпускается ежеквартально.

Содержание второго выпуска журнала:

• Проектное управление – ответ современным вызовам развития предприятий РЭО (П.П. Куцько, В.Г. Мельников)
• Способ управления высокотехнологичным производством с большим числом переделов продукции с помощью полностью замкнутого контура управления, на основе системы управления рисками (И.В. Семейкин, Г.В. Долгун)
• Лазерный комплекс для функциональной коррекции топологии кристаллов полупроводниковых изделий ошибок микросхемы К1921ВГ01Т (А.Н. Цирков, А.А. Печенкин, Р.К. Можаев, К.Г. Белозеров, А.В. Уланова)
• Устройство контроля внешних воздействий на основе низкопотребляющего микроконтроллера К1921ВГ015 (А.В. Дыхно, А.Е. Михайлов, В.А. Смерек)
• Разработка интеграционных тестов для проверки правильности работы памяти с коррекцией ошибок (М.А. Терехов, К.В. Зольников, Ю.А. Шкондин)
• Универсальная технология травления адгезионного материала для усовершенствования процесса бондинга пластин (П.С. Иванин, Е.Э. Гусев, М.Ю. Фомичев, В.К. Зольников)
• Перспективы использования кремния при создании силовых приборов (Ю.Н. Максименко)
• Исследование поведения порогового напряжения ДМОП-транзистора с комбинированным подзатворным диэлектриком на основе SIO2/SI3N4 в нормальных условиях и при воздействии гамма-излучения (П.В. Пролубников, Р.П. Алексеев, Е.Н. Бормонтов, А.Н. Цоцорин, Е.В. Гусаров, И.В. Семейкин, Т.В. Пашнева)
• Проведение аналитического расчета параметров технологического процесса герметизации микрообъемов кристаллов (П.Э. Гусев, К.В. Зольников, А.И. Заревич)
• Описание ключевых операций микросборки кремниевых пластин (П.Э. Гусев, К.В. Зольников, Ф.В. Макаренко)
• Проблемы и основные ограничения методов испытаний по одиночных радиационным эффектам современной электронной компонентной базы (А.С. Ватуев, А.И Озеров)
• Чат для автоматизированной информационной системы оперативного планирования и учета работ в сфере ЖКХ с использованием Веб-сокетов (А.Д. Глазов, А.Ю. Агапов, Н.С. Глазова, Н.А. Силантьева)