HRP-N3 - серия источников питания с максимальной пиковой мощностью в 350% от MEAN WELL

Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK — Даташит

ПроизводительTexas Instruments
СерияSN54BCT8374A
МодельSNJ54BCT8374AFK
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK

Scan Test Devices With Octal D-type Edge-Triggered Flip-Flops 28-LCCC -55 to 125

Datasheets

Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Кб, Версия: E, Файл опубликован: 1 июл 1996
Выписка из документа

Цены

8 предложений от 8 поставщиков
Scan Test Devices With Octal D-type Edge-Triggered Flip-Flops 28-LCCC -55 to 125
T-electron
Россия и страны СНГ
SNJ54BCT8374AFK
Texas Instruments
5 154 ₽
AiPCBA
Весь мир
SNJ54BCT8374AFK
Texas Instruments
6 159 ₽
Acme Chip
Весь мир
SNJ54BCT8374AFK
Texas Instruments
по запросу
Akcel
Весь мир
SNJ54BCT8374AFK
Texas Instruments
по запросу
Электромеханические реле Hongfa – надежность и качество 19 января 2023

Статус

Статус продуктаВ производстве (Рекомендуется для новых разработок)
Доступность образцов у производителяНет

Корпус / Упаковка / Маркировка

Pin28282828
Package TypeFKFKFKFK
Industry STD TermLCCCLCCCLCCCLCCC
JEDEC CodeS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-NS-CQCC-N
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Маркировка5962-8374AFK9172701Q3ASNJ54BCT
Width (мм)11.4311.4311.4311.43
Length (мм)11.4311.4311.4311.43
Thickness (мм)1.831.831.831.83
Pitch (мм)1.271.271.271.27
Max Height (мм)2.032.032.032.03
Mechanical DataСкачатьСкачатьСкачатьСкачать

Экологический статус

RoHSSee ti.com

Модельный ряд

Классификация производителя

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Flip-Flop/Latch/Registers

На английском языке: Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AFK

Электронные компоненты. Бесплатная доставка по России