Datasheet Texas Instruments SN74BCT8244ADW — Даташит

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal Buffers 24-SOIC 0 to 70

Datasheets

PDF, 385 Кб, Версия: E, Файл опубликован: 1 июл 1996

Выписка из документа

Купить SN74BCT8244ADW на РадиоЛоцман.Цены — от 361 до 4 238 ₽ 23 предложений от 16 поставщиков TEXAS INSTRUMENTS SN74BCT8244ADW Scan Test Device with Octal Buffers, 4.5 V to 5.5 V, SOIC-24
Стандарт СИЗ Россия	SN74BCT8244ADW Texas Instruments	361 ₽
ЧипСити Россия	SN74BCT8244ADW Texas Instruments	546 ₽
FAV Technology Весь мир	SN74BCT8244ADWE4 Texas Instruments	по запросу
Acme Chip Весь мир	SN74BCT8244ADW Texas Instruments	по запросу

Статус продукта	В производстве (Рекомендуется для новых разработок)
Доступность образцов у производителя	Нет

Bits	8
F @ Nom Voltage(Max)	70 Mhz
ICC @ Nom Voltage(Max)	52 мА
Рабочий диапазон температур	от 0 до 70 C
Output Drive (IOL/IOH)(Max)	64/-15 мА
Package Group	SOIC
Package Size: mm2:W x L	24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC) PKG
Rating	Catalog
Technology Family	BCT
VCC(Max)	5.5 В
VCC(Min)	4.5 В
Voltage(Nom)	5 В
tpd @ Nom Voltage(Max)	8.5 нс

RoHS

Совместим

Скачать
Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASP
PDF, 819 Кб, Файл опубликован: 1 ноя 2005
This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to

Серия: SN74BCT8244A (2)