Datasheet Texas Instruments SN74BCT8244A — Даташит
Производитель | Texas Instruments |
Серия | SN74BCT8244A |

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Тестовое устройство граничного сканирования с восьмеричными буферами
Datasheets
Scan Test Devices With Octal Buffers datasheet
PDF, 385 Кб, Версия: E, Файл опубликован: 1 июл 1996
Выписка из документа
Цены
Специальные функциональные логические элементы Device w/Octal Buffers | |||
SN74BCT8244A Texas Instruments | по запросу |
Статус
SN74BCT8244ADW | SN74BCT8244ADWE4 | |
---|---|---|
Статус продукта | В производстве | В производстве |
Доступность образцов у производителя | Нет | Да |
Корпус / Упаковка / Маркировка
SN74BCT8244ADW | SN74BCT8244ADWE4 | |
---|---|---|
N | 1 | 2 |
Pin | 24 | 24 |
Package Type | DW | DW |
Industry STD Term | SOIC | SOIC |
JEDEC Code | R-PDSO-G | R-PDSO-G |
Package QTY | 25 | 25 |
Carrier | TUBE | TUBE |
Маркировка | BCT8244A | BCT8244A |
Width (мм) | 7.5 | 7.5 |
Length (мм) | 15.4 | 15.4 |
Thickness (мм) | 2.35 | 2.35 |
Pitch (мм) | 1.27 | 1.27 |
Max Height (мм) | 2.65 | 2.65 |
Mechanical Data | Скачать | Скачать |
Параметры
Parameters / Models | SN74BCT8244ADW![]() | SN74BCT8244ADWE4![]() |
---|---|---|
Bits | 8 | 8 |
F @ Nom Voltage(Max), Mhz | 70 | 70 |
ICC @ Nom Voltage(Max), мА | 52 | 52 |
Рабочий диапазон температур, C | от 0 до 70 | от 0 до 70 |
Output Drive (IOL/IOH)(Max), мА | 64/-15 | 64/-15 |
Package Group | SOIC | SOIC |
Package Size: mm2:W x L, PKG | 24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC) | 24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC) |
Rating | Catalog | Catalog |
Technology Family | BCT | BCT |
VCC(Max), В | 5.5 | 5.5 |
VCC(Min), В | 4.5 | 4.5 |
Voltage(Nom), В | 5 | 5 |
tpd @ Nom Voltage(Max), нс | 8.5 | 8.5 |
Экологический статус
SN74BCT8244ADW | SN74BCT8244ADWE4 | |
---|---|---|
RoHS | Совместим | Совместим |
Application Notes
- Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASPPDF, 819 Кб, Файл опубликован: 1 ноя 2005
This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to
Модельный ряд
Серия: SN74BCT8244A (2)
Классификация производителя
- Semiconductors> Logic> Specialty Logic> Boundary Scan (JTAG) Logic