Заказные клавиатуры Accord по вашему ТЗ

Datasheet ТI SN74BCT8374ADW — Даташит

ПроизводительTexas Instruments
СерияSN74BCT8374A
МодельSN74BCT8374ADW
Datasheet Texas Instruments SN74BCT8374ADW

Устройство проверки сканирования с восьмеричными триггерами D-типа с фронтальным запуском 24-SOIC от 0 до 70

Datasheets

Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Кб, Версия: E, Файл опубликован: 1 июл 1996
Выписка из документа
Масштаб. Поставляем промышленную память с гарантией 12 месяцев

Application Notes

  • Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASP
    PDF, 819 Кб, Файл опубликован: 1 ноя 2005
    This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to

Модельный ряд

Серия: SN74BCT8374A (1)
  • SN74BCT8374ADW

Классификация производителя

  • Semiconductors > Logic > Specialty Logic > Boundary Scan (JTAG) Logic

На английском языке: Datasheet Texas Instruments SN74BCT8374ADW

ТМ Электроникс. Электронные компоненты и приборы. Скидки, кэшбэк и бесплатная доставка

Политика конфиденциальности