Datasheet Texas Instruments SN74BCT8374ADW — Даташит

Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70

Datasheets

PDF, 435 Кб, Версия: E, Файл опубликован: 1 июл 1996

Выписка из документа

Купить SN74BCT8374ADW на РадиоЛоцман.Цены — от 197 до 1 759 ₽ 21 предложений от 14 поставщиков TEXAS INSTRUMENTS SN74BCT8374ADW Flip-Flop, Non Inverted, Positive Edge, D, 6.7ns, 70MHz, 64mA, SOIC
Элитан Россия	SN74BCT8374ADW Texas Instruments	197 ₽
Контест Россия	SN74BCT8374ADW	246 ₽
Akcel Весь мир	SN74BCT8374ADW Texas Instruments	от 887 ₽
ЭИК Россия	SN74BCT8374ADW Texas Instruments	от 1 759 ₽

Статус продукта	В производстве (Рекомендуется для новых разработок)
Доступность образцов у производителя	Нет

Bits	8
F @ Nom Voltage(Max)	70 Mhz
ICC @ Nom Voltage(Max)	52 мА
Рабочий диапазон температур	от 0 до 70 C
Output Drive (IOL/IOH)(Max)	64/-15 мА
Package Group	SOIC
Package Size: mm2:W x L	24SOIC: 160 mm2: 10.3 x 15.5(SOIC) PKG
Rating	Catalog
Technology Family	BCT
VCC(Max)	5.5 В
VCC(Min)	4.5 В
Voltage(Nom)	5 В
tpd @ Nom Voltage(Max)	10 нс

RoHS

Совместим

Скачать
Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASP
PDF, 819 Кб, Файл опубликован: 1 ноя 2005
This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to

Серия: SN74BCT8374A (1)