Контрактное производство электроники. Полный цикл работ

Datasheet NSS40200L, NSV40200L (ON Semiconductor) - 2

ПроизводительON Semiconductor
Описание40 V, 2.0 A, Low VCE(sat) PNP Transistor
Страниц / Страница6 / 2 — NSS40200L, NSV40200L. MAXIMUM RATINGS. Rating. Symbol. Max. Unit. THERMAL …
Версия8
Формат / Размер файлаPDF / 89 Кб
Язык документаанглийский

NSS40200L, NSV40200L. MAXIMUM RATINGS. Rating. Symbol. Max. Unit. THERMAL CHARACTERISTICS. Characteristic. www.onsemi.com

NSS40200L, NSV40200L MAXIMUM RATINGS Rating Symbol Max Unit THERMAL CHARACTERISTICS Characteristic www.onsemi.com

44 предложений от 16 поставщиков
TRANS PNP 40V 2A SOT-23. Bipolar (BJT) Transistor PNP 40V 2A 100MHz 460mW Surface Mount SOT-23-3 (TO-236). Transistors - Bipolar (BJT)...
Maybo
Весь мир
NSS40200LT1G
ON Semiconductor
29 ₽
Lixinc Electronics
Весь мир
NSS40200LT1G
36 ₽
Кремний
Россия и страны СНГ
NSS40200LT1G
по запросу
NSS40200LT1G
по запросу
АЦП азиатских производителей. Часть 3. Многоканальные АЦП с синхронной выборкой

Модельный ряд для этого даташита

Текстовая версия документа

link to page 2 link to page 2 link to page 2 link to page 2 link to page 2
NSS40200L, NSV40200L MAXIMUM RATINGS
(TA = 25°C)
Rating Symbol Max Unit
Collector-Emitter Voltage VCEO −40 Vdc Collector-Base Voltage VCBO −40 Vdc Emitter-Base Voltage VEBO −7.0 Vdc Collector Current − Continuous IC −2.0 A Collector Current − Peak ICM −4.0 A Base Current − Peak IBM −300 mA Electrostatic Discharge ESD HBM Class 3B MM Class C
THERMAL CHARACTERISTICS Characteristic Symbol Max Unit
Total Device Dissipation PD (Note 1) TA = 25°C 460 mW Derate above 25°C 3.7 mW/°C Thermal Resistance, RqJA (Note 1) °C/W Junction−to−Ambient 270 Total Device Dissipation PD (Note 2) TA = 25°C 540 mW Derate above 25°C 4.3 mW/°C Thermal Resistance, RqJA (Note 2) °C/W Junction−to−Ambient 230 Total Device Dissipation PDsingle mW (Single Pulse < 10 sec) (Note 3) 710 Junction and Storage Temperature Range TJ, Tstg −55 to +150 °C Stresses exceeding those listed in the Maximum Ratings table may damage the device. If any of these limits are exceeded, device functionality should not be assumed, damage may occur and reliability may be affected. 1. FR− 4 @ 100 mm2, 1 oz. copper traces. 2. FR− 4 @ 500 mm2, 1 oz. copper traces. 3. Thermal response.
www.onsemi.com 2
ТМ Электроникс. Электронные компоненты и приборы. Скидки, кэшбэк и бесплатная доставка