Datasheet ZR431L (Diodes) - 4

ПроизводительDiodes
ОписаниеAdjustable Precision Shunt Regulator
Страниц / Страница9 / 4 — ZR431L. DC Test Circuits. www.diodes.com
Формат / Размер файлаPDF / 634 Кб
Язык документаанглийский

ZR431L. DC Test Circuits. www.diodes.com

ZR431L DC Test Circuits www.diodes.com

TradeElectronics
Россия
ZR431L
Diodes
по запросу
LifeElectronics
Россия
ZR431L_03
Zetex
по запросу
Вебинар Экономичные решения МЕAN WELL для надежных разработок - 30.09.2021

Модельный ряд для этого даташита

Текстовая версия документа

ZR431L DC Test Circuits
Figure 1. Test Circuit for VZ = VREF Figure 2. Test Circuit for VZ > VREF Figure 3. Test Circuit for Off State Current Deviation of reference input voltage, VDEV, is defined as the maximum variation of the reference input voltage over the full temperature range. The average temperature coefficient of the reference input voltage, VREF is defined as: V  MAX V 1000000 V ppm ( /o ) C dev  ref V ( 1 T  T ) 2 ref The dynamic output impedance, RZ is defined as: V = V - V DEV MAX MIN VMIN V  z R  z I  z When the device is programmed with two external resistors, R1 and R2 (Figure 2), the dynamic output impedance of the overall circuit, R’, is defined as: 1 R T1 Temperature T2 R  R 1 (  ) z 2 R

ZR431L 4 of 9 April 2015 Document number: DS33256 Rev. 4 - 2
www.diodes.com
© Diodes Incorporated
Прецизионный высоковольтный операционный усилитель ADA4097−1 с низким потреблением от Analog Devices