Shenler: реле, интерфейсные модули

Datasheet ZR431L (Diodes) - 4

ПроизводительDiodes
ОписаниеAdjustable Precision Shunt Regulator
Страниц / Страница9 / 4 — ZR431L. DC Test Circuits. www.diodes.com
Формат / Размер файлаPDF / 634 Кб
Язык документаанглийский

ZR431L. DC Test Circuits. www.diodes.com

ZR431L DC Test Circuits www.diodes.com

43 предложений от 17 поставщиков
Источник опорного напряжения, прецизионный, шунтирующий - регулируемый, ZR431L, 1.24В до 10В
ChipWorker
Весь мир
ZR431LF01TA
Diodes
12 ₽
727GS
Весь мир
ZR431LF01TA
Diodes
от 2 469 ₽
Hi-Tech Circuit Group
Весь мир
ZR431LF01TA
Diodes
по запросу
SUV System
Весь мир
ZR431LF01TA
по запросу
АЦП азиатских производителей. Часть 1. Преобразователи последовательного приближения

Модельный ряд для этого даташита

Текстовая версия документа

ZR431L DC Test Circuits
Figure 1. Test Circuit for VZ = VREF Figure 2. Test Circuit for VZ > VREF Figure 3. Test Circuit for Off State Current Deviation of reference input voltage, VDEV, is defined as the maximum variation of the reference input voltage over the full temperature range. The average temperature coefficient of the reference input voltage, VREF is defined as: V  MAX V 1000000 V ppm ( /o ) C dev  ref V ( 1 T  T ) 2 ref The dynamic output impedance, RZ is defined as: V = V - V DEV MAX MIN VMIN V  z R  z I  z When the device is programmed with two external resistors, R1 and R2 (Figure 2), the dynamic output impedance of the overall circuit, R’, is defined as: 1 R T1 Temperature T2 R  R 1 (  ) z 2 R ZR431L 4 of 9 April 2015 Document number: DS33256 Rev. 4 - 2
www.diodes.com
© Diodes Incorporated
ТМ Электроникс. Электронные компоненты и приборы. Скидки, кэшбэк и бесплатная доставка