АО «ЗНТЦ» совместно с НИУ МИЭТ осуществляет разработку технологии и ведет подготовку инфраструктуры для производства кристаллов транзисторов на основе гетероструктур нитрида галлия для изготовления силовой и СВЧ электроники...
АО «ЗНТЦ» совместно с НИУ МИЭТ осуществляет разработку технологии и ведет подготовку инфраструктуры для производства кристаллов транзисторов на основе гетероструктур нитрида галлия для изготовления силовой и СВЧ электроники...
Темы номера: Новости, Бытовая техника, Телевизионная техника, Бытовая техника, Измерительная техника, Оборудование, Полупроводниковая светотехника, Компоненты и технологии...
Холдинг «Росэлектроника» Госкорпорации Ростех представил на выставке «Иннопром-2022» образец монокристаллического кремния, созданного полностью из российских материалов...
Сотрудничество в сфере микроэлектроники, информационных технологий и биомедицины стало главной темой переговоров между ОЭЗ «Технополис Москва» и крупной особой технологической зоной Китая «Цзянбэй Синьцюй»...
В Южной промзоне Зеленограда вовсю идёт строительство — на месте снесенных двух старых корпусов «Ангстрема» возводят «производство микроэлектронной продукции» общей площадью в 50 тысяч кв.метров...
Научно-исследовательскую работу по изучению возможности разработки установки безмасочной рентгеновской нанолитографии с длиной волны 13.5 нм выполняют ученые Центра коллективного пользования «Микросистемная техника и электронная компонентная база» МИЭТ...
Электронный журнал в формате PDF для разработчиков электроники. Распространяется бесплатно на сайте РадиоЛоцман...
Темы номера: Новости, Телевизионная техника, Аудиотехника, Бытовая техника, Измерительная техника, Оборудование, Компоненты и технологии ...
НПО «Сплав» им. А.Н. Ганичева представило на Международной выставке электронных компонентов, модулей и комплектующих «ЭкспоЭлектроника-2022» гибкий печатный кабель – ГПК-МП. Изделие не имеет отечественных и зарубежных аналогов...
Холдинг «Росэлектроника» впервые представил на форуме «ЭкспоЭлектроника-2022» зондовую станцию для измерения электрических характеристик устройств на неразделенных полупроводниковых пластинах...