Отладочный набор Texas Instruments HSDC-SEK-10

Подробное описание

Набор позволит сократить затраты на оценку возможностей микросхем высокоскоростных АЦП и ЦАП, а также упростить и ускорить систем, в которых высокоскоростное преобразование данных является ключевой задачей.

В состав отладочного набора входит несколько функциональных плат (модулей): плата захвата данных испытательного сигнала, плата генератора испытательного сигнала, плата источника высокостабильного тактового сигнала, плата источника сигнала с частотой 10 МГц и плата регулируемого источника питания. Каждый из представленных модулей можно приобрести отдельно.

Все необходимое программное обеспечение, схемы и документация доступны для скачивания на сайте компании.

Отличительные особенности:

• полнофункциональный отладочный набор для разработки систем высокоскоростного преобразования данных;
  • плата захвата данных испытательного сигнала TSW1405EVM:
    • плата предназначена для оценки возможностей популярных микросхем высокоскоростных АЦП с самой низкой стоимостью в отрасли;
    • поддержка высокоскоростной шины LVDS обеспечивает работу с 16-битными выборками на скорости 1 Гвыб/с;
    • встроенный буфер на 64000 выборки;
    • поддерживается одновременный захват данных по 8 каналам;
    • установлена высокоскоростная ПЛИС Lattice ECP3, которая обеспечивает непосредственное подключение оценочных модулей АЦП с LVDS шиной;
    • интерфейс USB используется для передачи данных и питания;
    • программная поддержка: простое приложение с интуитивно понятным графическим пользовательским интерфейсом;
  • плата генератора испытательного сигнала:
    • плата предназначена для оценки возможностей микросхем высокоскоростных ЦАП;
    • поддержка высокоскоростной шины LVDS обеспечивает работу с 16-битными данными на скорости 1 Гвыб/с;
    • встроенный буфер на 64000 выборки;
    • генерирование и передача данных испытательного сигнала на оценочный модуль ЦАП;
    • установлена высокоскоростная ПЛИС Lattice ECP3, которая обеспечивает непосредственное подключение оценочных модулей ЦАП с LVDS шиной;
    • для управления и передачи данных на плату используется интерфейс USB;
    • программная поддержка: простое приложение с интуитивно понятным графическим пользовательским интерфейсом;
  • плата источника высокостабильного тактового сигнала:
    • плата является источником тактовых сигналов с низким уровнем джиттера для оценочных модулей, входящих в состав набора;
    • плата выполнена на специализированной микросхеме LMK04806;
    • две схемы ФАПЧ;
    • несколько режимов работы;
    • программируемые выходы;
    • схема кварцевого генератора опорной частоты 10 МГц с малым уровнем шума;
    • схема генератора, управляемого напряжением;
    • 6 выходов тактовой частоты до 1300 МГц (LVDS) и 250 МГц (КМОП);
    • управление по интерфейсу USB;
    • программная поддержка: простое приложение с интуитивно понятным графическим пользовательским интерфейсом;
  • плата источника сигнала с частотой 10 МГц:
    • предназначена для генерации входного сигнала для проверки микросхем АЦП;
    • схема кварцевого генератора 10 МГц;
    • схема усилителя и фильтра;
    • требуется один источник питания 5 В;
  • плата регулируемого источника питания:
    • входное напряжение 10 В – 20 В;
    • каналы с фиксированным выходным напряжения: 1.8 В, 3.3 В, 5В и два канала с регулируемым выходным напряжением 1. 4 В – 6.37 В;
    • выходной ток по всем каналам до 1 А;
    • дополнительный источник напряжения -5.0 В с выходным током 0.36 А;
    • встроенная схема секвенсора для определения интервалов включения каждого источника;
• полная программная и техническая поддержка;

Основные параметры

Комплектация:

1. Плата захвата данных испытательного сигнала (TSW1405EVM)
2. Плата генератора испытательного сигнала (TSW1406EVM)
3. Плата источника высокостабильного тактового сигнала (TSW4806EVM)
4. Плата источника сигнала с частотой 10 МГц (TSW2110EVM)
5. Плата регулируемого источника питания (TSW2200EVM)

ti.com

Варианты написания:

HSDCSEK10, HSDC SEK 10